最简单的硬件方法：
直接用肖特基反方向箝位，只测量正半周，然后按照一定采样率进行ADC积分，出来的还是真正的有效值。软件也简单，只是累加、平均，应该是性价比最好的方法了，当采用率不高或者精度要求很高的时候，建议准确统计非零的连续采样数据，作为平均的基数，方法里面完全不需要添加直流偏移电压，也不需要其他整流啊积分啊什么的转换手段，只一个电压互感器就OK。有效提高到AD的电压值，比如2mA*2K=4V。可以获得最大程度的精度。
如果嫌这样的程序算法占资源稍多，还可以考虑用另外一路定时器输入通道进行周期捕获，没有直接放大整形周期会抖动，但是连续测量+平均以后，周期数据肯定是准确的，这个周期和你的采样周期的比值，就是积分以后的平均基准数据，这样算法精度直接可以做到AD极限。
最简单的硬件方法：
直接用肖特基反方向箝位，只测量正半周，然后按照一定采样率进行ADC积分，出来的还是真正的有效值。软件也简单，只是累加、平均，应该是性价比最好的方法了，当采用率不高或者精度要求很高的时候，建议准确统计非零的连续采样数据，作为平均的基数，方法里面完全不需要添加直流偏移电压，也不需要其他整流啊积分啊什么的转换手段，只一个电压互感器就OK。有效提高到AD的电压值，比如2mA*2K=4V。可以获得最大程度的精度。
如果嫌这样的程序算法占资源稍多，还可以考虑用另外一路定时器输入通道进行周期捕获，没有直接放大整形周期会抖动，但是连续测量+平均以后，周期数据肯定是准确的，这个周期和你的采样周期的比值，就是积分以后的平均基准数据，这样算法精度直接可以做到AD极限。
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