就像很多其他半导体器件一样,高速模数转换器(ADC)并 不能始终像我们期望那样完美运行。它们存在一些固有限 制,使其偶尔会产生超出正常功能的罕见转换错误。然 而,像测试和测量设备等很多实际采样系统不容许存在高 ADC转换误码率。因此,量化高速模数转换误码率(CER) 的频率和幅度非常重要,这样工程师才能设计出具有合适 预期性能的系统。
高速或GSPS ADC(每秒千兆采样ADC)相对稀疏出现的转换 错误不仅造成其难以检测,而且还使测量过程非常耗时。 该持续时间通常超出毫秒范围,达到几小时、几天、几周 甚至是几个月。为了帮助消减这一耗时测试负担,我们可 以在一定“置信度”的确定性情况下估算误码率,而仍然保 持结果的质量。
就像很多其他半导体器件一样,高速模数转换器(ADC)并 不能始终像我们期望那样完美运行。它们存在一些固有限 制,使其偶尔会产生超出正常功能的罕见转换错误。然 而,像测试和测量设备等很多实际采样系统不容许存在高 ADC转换误码率。因此,量化高速模数转换误码率(CER) 的频率和幅度非常重要,这样工程师才能设计出具有合适 预期性能的系统。
高速或GSPS ADC(每秒千兆采样ADC)相对稀疏出现的转换 错误不仅造成其难以检测,而且还使测量过程非常耗时。 该持续时间通常超出毫秒范围,达到几小时、几天、几周 甚至是几个月。为了帮助消减这一耗时测试负担,我们可 以在一定“置信度”的确定性情况下估算误码率,而仍然保 持结果的质量。
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