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独立按键实验 按键是一种电子开关,使用时轻轻按开关按钮就可使开关接通,当松开手时, 开关断开。我们开发板上使用的按键及内部简易图如下图所示 管脚与管脚之间(注意是距离)距离长的是导通状态,短的是接通状态。 通常的按键所用开关为机械弹性开关,当机械触点断开、闭合时,电压信号 如下图所示: 如图所示,按键闭合式不会立刻稳定的接通,断开时也不会一下子断开,会伴随一些抖动。抖动的时间长短有按键特性决定,一般为5Ms到10ms.按键抖动会引起按键被误读多次。为了确保 CPU 对按键的一次闭合仅作一次处理,必须进行消抖。
单片机的 IO 口既可作为输出也可作为输入使用,当检测按键时用的是它的输入功能,独立按键的一端接地,另一端与单片机的某个 I/O 口相连,开始时先给该 IO 口赋一高电平,然后让单片机不断地检测该 I/O 口是否变为低电平,当按键闭合时,即相当于该 I/O 口通过按键与地相连,变成低电平,程序一旦检测到 I/O 口变为低电平则说明按键被按下,然后执行相应的指令。 由图可以看出,单片机的管脚(p1,p3,等管脚)都接有上拉电阻,上拉电阻接高电平。因此我们在消抖检测时,若按键以已经按下,则管脚接地,变为低电平,若管脚为低电平,则说明按键已经按下,执行LED灯点亮的步骤。
键排成 4 行 4 列,第一行将每个按键的一端连接在一起构成行线,第一列将每 个按键的另一端连接在一起构成列线,这样便一共有 4 行 4 列共 8 根线,我们将 这 8 根线连接到单片机的 8 个 I/O 口上,通过程序扫描键盘就可检测 16 个 键。
每一行(共4行)并联在一起接高位管脚上(7-4),每一列(共4列)并联在一起接到低位管脚上(3~0)。 所以检测方法有所不同。 一般情况下有两种方法。 方法一: 逐行扫描:我们可以通过高四位轮流输出低电平来对矩阵键盘进行逐行扫描,当低四位接收到的数据不全为1的时候,说明有按键按下,然后通过接收到的数据是哪一位为0来判断是哪一个按键被按下。逐行扫描的时间是非常快的,肉眼难以观察。 举个例子,假设此时p7管脚为低电平,那么第一行按键的一段都为低电平,另一端分别连接低4位的管脚,只有当某一个开关按下,低4位的管脚与其中一个低电平的管脚连接变为低电平,所以只要查看低4位那个管脚为低电平就可以确定那个按键以按下。其他三行同理,每一行依次不断进行。 方法二: 行列扫描:我们可以通过高四位全部输出低电平,低四位输出高电平。当接收到的数据,低四位不全为高电平时,说明有按键按下,然后通过接收的数据值,判断是哪一列有按键按下,然后再反过来,高四位输出高电平,低四位输出低电平,然后根据接收到的高四位的值判断是那一行有按键按下,这样就能够确定是哪一个按键按下了。相当于第一次确定列,第二次确定行,行列交叉形成点,这个点就是我们要找的已经闭合的按键。
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