本帖最后由 nealcc 于 2015-9-25 16:42 编辑
我觉得，对AD采样芯片而言，应该用“G”做参考。+2.5V是公共参考端。
而这个输入方式，不能算差分方式，两个运放起到的就是隔离抑制VCC和GND的共模噪声作用。（因为差分特性就是高共模抑制，所以整个系统有些差分的影子。）
相对与G
AIN1 范围应该是 0
AIN4 范围应该是 0+(+2.5)
芯片里面的计算方式应该是：
(AIN1+2.5-AIN2)-(AIN4-AIN3)，如此得到的就是采样电阻的电压
因为AD口一般只能采样“正电压"，AIN4加了上拉电阻，必然会引入上拉电源的干扰，而+5V系统的电源波动又是一个共模干扰，所以在AIN1引入AIN2目的也是来以AIN2或AIN3作为一个公共参考端，判断是否有电源波动！
假设，GND端引入干扰A，+5V端引入干扰B
上公式变为 (IN1+A+2.5-AIN2)-(IN4+A+2.5+B-AIN3) 因为AIN3=AIN2
变为 IN1-IN4+B
本帖最后由 nealcc 于 2015-9-25 16:42 编辑
我觉得，对AD采样芯片而言，应该用“G”做参考。+2.5V是公共参考端。
而这个输入方式，不能算差分方式，两个运放起到的就是隔离抑制VCC和GND的共模噪声作用。（因为差分特性就是高共模抑制，所以整个系统有些差分的影子。）
相对与G
AIN1 范围应该是 0
AIN4 范围应该是 0+(+2.5)
芯片里面的计算方式应该是：
(AIN1+2.5-AIN2)-(AIN4-AIN3)，如此得到的就是采样电阻的电压
因为AD口一般只能采样“正电压"，AIN4加了上拉电阻，必然会引入上拉电源的干扰，而+5V系统的电源波动又是一个共模干扰，所以在AIN1引入AIN2目的也是来以AIN2或AIN3作为一个公共参考端，判断是否有电源波动！
假设，GND端引入干扰A，+5V端引入干扰B
上公式变为 (IN1+A+2.5-AIN2)-(IN4+A+2.5+B-AIN3) 因为AIN3=AIN2
变为 IN1-IN4+B
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