晶圆表面缺陷检测仪

型号: YIS200;YIS300

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芯茂(嘉兴)半导体科技有限公司

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           表面欠陥検査装置「魔鏡」

       本设备应用魔镜的原理,高灵敏度地检查镜面样品的表面状态。可以高灵敏度地检测样品表面上的不均匀性,翘曲,抛光不均匀性等,检测结果在监视器上用亮度(白)和暗度(黑)表示。检查可以在非接触和非破坏性的情况下进行,并且可以立即确认样品的表面状态。这是一款使用免维护光学系统,可操作性优异的设备。

     原理: 基于事前所设定的缺陷判断的阈値,使所取得的图像,缺陷种类的判别,缺陷部位的可视化,位置坐标算出,缺陷尺寸表示等进行自动解析,可在界面针对数据,对缺陷进行逐一观测。

特長                                                                                用途
1.所有的表面状态都是即时的。                                  ○镜面晶圆的表面检查
2.我们的光学系统对应是1级的。                                ○滑移线的检查
3.光学系统是免维护的。                                            ○玻璃基板的检测
4.根据检查内容,检测灵敏度/检测放大率                   ○其他镜面基板的检测
                                                                                     ○Film等的基板以外的检查
5.根据每个样品和检查位置定制最佳光学系统。