支付应用
卡和读卡系统之间的临界耦合效应当读卡器比智能卡小时，RF 通讯就遇到了挑战。出于简化和设计方便的考虑，目前流行的标准是将非接触式读卡器设计得尽可能小，尽可能紧凑。这意味着读卡器的天线要小于一般常见的ID1 的尺寸。然而，由于业内普遍接受的大多数支付卡（例如Visawave, Paywave, JCB）仍然执行ISO/IEC 7810 标准(ID1,85mm*54mm)的规定制式，使用较小尺寸的读卡器就对RF 通讯提出了挑战。
以上情形导致卡和读卡器系统之间产生临界耦合效应，这种临界耦合效应通常会使卡和读卡器之间的RF 通讯变得极不稳定。尽管看似不合理，但这种耦合效应确实有违基本的逻辑，即，卡离读卡器越近，耦合效应就越强！
但是，采用如下一些方法，可以最大限度减轻这个问题的影响：
为了克服因卡片天线和读卡器天线的尺寸不匹配而造成的负面影响，一种方法是设计者可以调整卡片天线和读卡器天线的尺寸，使得读卡器天线的尺寸比卡片天线的大。根据支付系统的限制条件，可对读卡器天线加以调整或者改变智能卡天线的设计。事实上，尺寸只有ID1 一半的支付卡在市场上已经越来越普遍。这种方法虽然解决了上述难题，但它也带来了其他问题。这些尺寸只有ID1 一半的卡很难满足ISO14443 规定的关于最小负载的调制要求。尽管如此，业内已经找到一些采用较小外形尺寸（ID1/2 和ID1/3），并满足ISO14443 规定的负载调制限制的设计方案。
改变卡片天线的设计（例如感应系数、线圈材料等）以达到调整Q 值或谐振频率的目的。如果线圈的Q 值较低，它传递给卡的能量耦合就比较小，将卡去谐以获得较高的谐振频率也会取得同样效果。这两种方法都可以减少卡片天线和读卡器天线之间的相互影响，进而降低他们之间的耦合效应。这种方法的好处是不需要改变读卡器的设计，可以避免因读卡器系统升级而带来的高昂成本。当然，这种方法的缺陷是不能完全满足某些项目对于工作距离的要求。尽管不能完全解决问题，但这种方法仍然可以大幅降低耦合效应的负面影响。
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卡和读卡系统之间的临界耦合效应当读卡器比智能卡小时，RF 通讯就遇到了挑战。出于简化和设计方便的考虑，目前流行的标准是将非接触式读卡器设计得尽可能小，尽可能紧凑。这意味着读卡器的天线要小于一般常见的ID1 的尺寸。然而，由于业内普遍接受的大多数支付卡（例如Visawave, Paywave, JCB）仍然执行ISO/IEC 7810 标准(ID1,85mm*54mm)的规定制式，使用较小尺寸的读卡器就对RF 通讯提出了挑战。
以上情形导致卡和读卡器系统之间产生临界耦合效应，这种临界耦合效应通常会使卡和读卡器之间的RF 通讯变得极不稳定。尽管看似不合理，但这种耦合效应确实有违基本的逻辑，即，卡离读卡器越近，耦合效应就越强！
但是，采用如下一些方法，可以最大限度减轻这个问题的影响：
为了克服因卡片天线和读卡器天线的尺寸不匹配而造成的负面影响，一种方法是设计者可以调整卡片天线和读卡器天线的尺寸，使得读卡器天线的尺寸比卡片天线的大。根据支付系统的限制条件，可对读卡器天线加以调整或者改变智能卡天线的设计。事实上，尺寸只有ID1 一半的支付卡在市场上已经越来越普遍。这种方法虽然解决了上述难题，但它也带来了其他问题。这些尺寸只有ID1 一半的卡很难满足ISO14443 规定的关于最小负载的调制要求。尽管如此，业内已经找到一些采用较小外形尺寸（ID1/2 和ID1/3），并满足ISO14443 规定的负载调制限制的设计方案。
改变卡片天线的设计（例如感应系数、线圈材料等）以达到调整Q 值或谐振频率的目的。如果线圈的Q 值较低，它传递给卡的能量耦合就比较小，将卡去谐以获得较高的谐振频率也会取得同样效果。这两种方法都可以减少卡片天线和读卡器天线之间的相互影响，进而降低他们之间的耦合效应。这种方法的好处是不需要改变读卡器的设计，可以避免因读卡器系统升级而带来的高昂成本。当然，这种方法的缺陷是不能完全满足某些项目对于工作距离的要求。尽管不能完全解决问题，但这种方法仍然可以大幅降低耦合效应的负面影响。
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