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现在打算使用新唐M451LG6AE芯片设计产品,因为在产品生产后需要经过ICT测试,ICT又需要使用芯片的边界扫描功能。但是在手册中没有找到关于边界扫描的描述,也不知道应该预留哪几个引脚来支持边界扫描。
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1个回答
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根据新唐M451LG6AE芯片的手册,该芯片具有支持JTAG模式的边界扫描链功能,可以通过JTAG接口实现边界扫描功能。因此,您只需要在产品设计时预留JTAG接口即可支持边界扫描。在设计时,可以考虑预留SWCLK、SWDIO、SWO和nRST等引脚来连接JTAG接口。另外,建议您使用标准的JTAG接口设计,以便可以与常见的ICT测试设备兼容。
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